装置一覧

電子顕微鏡

dsc_000001-1 JEOL JEM-ARM200F

 Topcon EM-002B

 JEOL JEM-2000EXII

通常観察、高分解能観察、その場観察(加熱・冷却)、TEM-EDX(点分析)が可能です。当室の装置ではSTEM、マッピング等は対応できませんが、ご希望の利用者の方には学内の他の電顕担当部署を紹介可能ですのでご相談ください。

JEM-ARM200Fの移管により、STEM,マッピングに対応可能となりました。(2016/10/20)

  • 先端電子顕微鏡センター内    (片平地区)
  • ナノテク融合技術支援センター内 (金研)
  • 工学部・工学研究科 技術部内  (青葉山キャンパス)

試料作製装置

 イオンミリング (model 1010)

 イオンミリング(PIPS II)

 イオンスライサー

 FIB Thermofisher Quanta 3D

 FIB Thermofisher Versa 3D

当室ではArイオン研磨による試料作製を行っています。電解研磨よる試料作製を希望される方は対応可能な部署を紹介可能ですのでご相談ください。

FIB2台が当室に移管されました。利用を希望される方は当室までご相談ください。

電子顕微鏡周辺装置

 ディンプルグラインダー

 イオンクリーナー

 オスミウムコータ

ソフトウェア

X線回折装置

 高出力全自動水平型多目的X線回折装置

熱分析装置

 DSC/TG-DTA