電子顕微鏡
JEM-ARM200F S/TEM コレクター | JEM-ARM200F STEM コレクター | JEM-2100plus | EM-002B | JEM-2000EX |
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TEM/STEM/EDS/EELS | TEM/STEM/EDS/EELS 2023年度 | TEM/STEM/EDS | TEM/STEM/EDS | TEM |
試料作製装置(イオン研磨)
model 1010 | PIPS II(#1) | PIPS II(#2) | EM-09100IS |
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イオンミリング | イオンミリング | イオンミリング | イオンスライサー |
自動停止 試料冷却 | 試料冷却 | 自動停止 試料冷却 | 断面試料作製 |
収束イオンビーム装置(FIB)
電子顕微鏡周辺装置(準備中)
ディンプルグラインダー | イオンクリーナー | イオンクリーナー | プラズマクリーナー | 低速カッター |
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ディスクパンチ | ラップ研磨器 | オスミウムコーター | ツインジェット 電解研磨装置 | |
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その他の装置
多目的X線回折装置SmartLab 9SW | 熱分析装置 Thermo plus EVO Ⅱ | ||
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XRD | DSC/TG-DTA |
ソフトウェア
- 結晶構造モデリング・電子回折シミュレーション
- 高分解能電子顕微鏡像シミュレーション
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