装置一覧

電子顕微鏡

JEM-ARM200F
S/TEM コレクター		JEM-ARM200F
STEM コレクター		JEM-2100plusEM-002BJEM-2000EX
dsc_000001-1
TEM/STEM/EDS/EELSTEM/STEM/EDS/EELS
2023年度		TEM/STEM/EDSTEM/STEM/EDSTEM

試料作製装置（イオン研磨）

model 1010PIPS II（＃1）PIPS II（＃2）EM-09100IS
イオンミリングイオンミリングイオンミリングイオンスライサー
自動停止
試料冷却		試料冷却自動停止
試料冷却		断面試料作製

　

収束イオンビーム装置（FIB）

Versa 3DQuanta 3D
FIB/SEM/EDSFIB/SEM

電子顕微鏡周辺装置（準備中）

ディンプルグラインダーイオンクリーナーイオンクリーナープラズマクリーナー低速カッター
ディスクパンチラップ研磨器オスミウムコーターツインジェット
電解研磨装置
貸出のみ

その他の装置

多目的X線回折装置SmartLab 9SW熱分析装置
Thermo plus EVO Ⅱ
XRDDSC/TG-DTA

ソフトウェア