利用者各位
いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
10月20日に開催された教授会で承認されたとおり、 文科省ナノテクノロジープラットフォーム事業（ナノプラ）より本所へ導入した収差補正電子顕微鏡（ 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡 ）について、ナノプラ・分析コアの共同管理による運用を行うこととなりました。当室利用者の皆様におきましては当該装置の使用が可能になりますので是非ご活用ください。
装置の利用方法等、詳細は当室スタッフまでご確認ください。
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装置諸元（抜粋）
- 型式 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡
- 電子銃 冷陰極電界放出形電子銃
- 加速電圧 200kV、80kV
- 用途
- 高分解能TEM観察
- 高分解能STEM観察（HAADF/LAADF/ABF/BF）
- TEM-EDS/STEM-EDS
- TEM-EELS/STEM-EELS
利用料金
＞こちら
本装置はナノプラ・分析コアの共同運用となるため、使用者及びマシンタイムが制限される場合があります。
- 使用者の制限について
本装置の操作には一般の電子顕微鏡と比べて熟練を要するため、初習者に関しては単独使用は認めておらず、管理者による操作代行もしくは立会が必要になります。
（操作代行・長時間の立会観察の場合は、通常の装置使用料に加えて技術支援料を頂戴致します。）
- マシンタイムの制限について
分析コア利用者が使用可能なマシンタイムの合計は最大で利用可能日の50％になります（50％以上はナノテク利用者へ供与）
予約はナノプラ供与率、立会管理者のスケジュール、加速電圧等の実験条件によって調整されます。
- 予約方法について
マシンタイムの予約は管理者を通してその都度行う必要があります（予約システム上では予定の確認のみ可能です）。
- 使用ライセンス
一定の技能を有するユーザーに関しては装置の単独利用を許可します。技能修得のためのトレーニングも実施致します。トレーニングプログラムについては現在準備中です。お急ぎのユーザー様には個別に対応致しますので当室まで直接お問い合わせください。
