「ARM200F」カテゴリーアーカイブ

JEM-ARM200Fの利用について(追記)

2019/12現在、「学外」及び、「学内の所外」ユーザーの方は原則として東北大学ナノテク支援センター経由でのお申し込みのみ、当該装置の利用を受け付けております。

(参考)以下は2018年時点での情報です。

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室では原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fを東北大学ナノテク融合技術支援センターと共同運用いたしておりますが、当該装置は文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム(ナノテク)」事業において導入されており、使用においてはいくつかの制限がかかっております。

上記事業の費用において導入された設備については、外部共用率の目標を50%以上とすることが求められており、当室で管理している時間枠は外部共用を除いた分(分析枠)となります。外部共用率に計上可能な案件は、原則として学外利用者による公開案件のみとなります。例外として、実施部局(本所)以外のユーザーは1/3を上限に外部共用にカウントすることが可能です。

従って、所内ユーザーはナノテク枠(学内)の使用を申請することができないため、分析枠で対応することとなります。 また、制限を超えた利用を行うことで、場合によっては事業縮小や停止等のペナルティを受ける可能性がございます。 現在所内外の多数のユーザーの方に当該装置をご利用頂いておりますが、本年度分の分析枠は既に枯渇しかかっております。なお、上述の通り学内の所外ユーザの方もナノテク枠(全体)の最大1/3までしか使用できませんので、ナノテク枠(学内)も逼迫しており必要な実験が行えない恐れが出てきております。

以上の事から、分析枠・ナノテク枠(学内)の枯渇を抑制し、できるだけ多くの利用者に当該装置の利用機会を提供する為に、利用者の方には以下の対応をとるようお願い致します。

  • 所外ユーザーはナノテク枠(学内)の使用をお願いします。
  • 企業や他大学との共同研究等で利用される場合は、共同研究先の方の名義によるナノテク枠(学外)での利用申請が可能かご検討ください。(枠の制限がかからないため、タイムを取りやすくなります。)

※本要請はあくまでも依頼であり、所外ユーザーにナノテク枠の利用を強制するものではありません。

※※ナノテク枠の利用にあたっては課題審査及び利用報告書の提出等が必要となりますが、研究遂行の負担にならないよう「東北大学ナノテク融合技術支援センター」がフォローいたします。詳細はお問い合わせください。http://cints-tohoku.jp/

※※※分析枠からナノテク枠への切り替えを含む不明な点については当室までご相談ください。

※※※※分析枠・ナノテク枠(全体・学内・学外)の表記は本サイト独自のものです。

皆様のご協力をお願い致します。

電子顕微鏡の不具合等について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在、当室管理の電子顕微鏡(002B 及び JEM-ARM200F)におきまして、装置不具合及び設置環境による影響のため、装置が使用不可あるいは、十分な性能が出ない状況が生じております。既に確定している予約分も含めて、スケジュール通りに期待した実験を実施できない恐れがございますので、実験スケジュールをご確認の上必要な場合は予約変更もしくは他の電顕部門のご利用をご検討頂きますようお願い致します。学会シーズンを控え皆様には大変なご不便をおかけしてしまい申し訳ございませんが、何卒ご理解の上ご協力頂きますようお願い致します。

不具合等の詳細

・002B

症状

高圧タンク内の基板が破損し、電子線が発生せず使用不可。

使用不可期間

~8/20以降

対策

メーカーに修理対応を依頼しておりますが、メーカ側、本所の夏期休業の為、夏期休業明けの8/20以降に対応予定。修理完了は未定。


・ARM200F

症状(1)

突発的にレンズ電源がOffになる。症状は継続する場合もあるが、即時~1時間程度でレンズ電源On可能となり、観察続行可。但し、症状発生の度に要軸調整。付随して通信エラーが生じる場合もあり、再起動等で30分程度実験が中断する。特に高倍率観察時には安定するまで時間がかかる。マッピング中などに発生するケースもあり。発生するタイミングは不明。1日1回程度の場合もあれば、1時間で複数回発生する場合もある。

対策

メーカーに原因調査及び修理を依頼しておりますが、現時点で対応策は決定しておりません。

症状(2)

STEM使用時にスキャンノイズが発生し観察不可となる。

原因

隣室設置の大型装置稼働に由来する変動磁場の影響で電子線が不規則に偏向されるため。

対策

基本的に大型装置稼働中のみに症状が発生するため、稼働時間を避けて観察を行う。大型装置の稼働状況については、当該部門と当室で共有しておりますので、マシンタイム予約時にスタッフまでお問い合わせください。磁気シールド等による技術的対策及び、移設を含めた対策を検討中ですが、多額の費用と期間(1年以上)が見込まれるため、当面はスケジュール調整で対応致します。

追加情報

当該装置は現在週2回程度の稼働状況ですが、今後使用頻度が増える見込みです。基本的に技術職員による運転となるため、早朝・深夜・休日に観察を行うことで影響を回避可能です。

ARM200F不具合(一部復旧)

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられます。利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

不具合内容

  • インギャップ絞りの変形
  • ポールピースキャップ外れ

対応

  • 変形したOLAは既に取り外し済で、1月中に交換予定です。(交換しました。)
  • ポールピースキャップの取り付けにはポールピースを取り外す必要があるため、大規模メンテナンスまでの間当面は取り外したまま使用いたします。

影響

  • OLA(upper)使用不可
  • EDS測定においてCo等のバックグラウンドレベルが上昇する場合がある。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

JEM-ARM200Fの利用について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室では原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fを東北大学ナノテク融合技術支援センターと共同運用いたしておりますが、当該装置は文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム(ナノテク)」事業において導入されており、使用においてはいくつかの制限がかかっております。

上記事業の費用において導入された設備については、外部共用率の目標を50%以上とすることが求められており、当室で管理している時間枠は外部共用を除いた分(分析枠)となります。外部共用率に計上可能な案件は、原則として学外利用者による公開案件のみとなります。例外として、実施部局(本所)以外のユーザーは1/3を上限に外部共用にカウントすることが可能です。

従って、所内ユーザーはナノテク枠(学内)の使用を申請することができないため、分析枠で対応することとなります。 また、制限を超えた利用を行うことで、場合によっては事業縮小や停止等のペナルティを受ける可能性がございます。 現在所内外の多数のユーザーの方に当該装置をご利用頂いておりますが、本年度分の分析枠は既に枯渇しかかっております。なお、上述の通り学内の所外ユーザの方もナノテク枠(全体)の最大1/3までしか使用できませんので、ナノテク枠(学内)も逼迫しており必要な実験が行えない恐れが出てきております。

以上の事から、分析枠・ナノテク枠(学内)の枯渇を抑制し、できるだけ多くの利用者に当該装置の利用機会を提供する為に、利用者の方には以下の対応をとるようお願い致します。

  • 所外ユーザーはナノテク枠(学内)の使用をお願いします。
  • 企業や他大学との共同研究等で利用される場合は、共同研究先の方の名義によるナノテク枠(学外)での利用申請が可能かご検討ください。(枠の制限がかからないため、タイムを取りやすくなります。)

※本要請はあくまでも依頼であり、所外ユーザーにナノテク枠の利用を強制するものではありません。

※※ナノテク枠の利用にあたっては課題審査及び利用報告書の提出等が必要となりますが、研究遂行の負担にならないよう「東北大学ナノテク融合技術支援センター」がフォローいたします。詳細はお問い合わせください。http://cints-tohoku.jp/

※※※分析枠からナノテク枠への切り替えを含む不明な点については当室までご相談ください。

※※※※分析枠・ナノテク枠(全体・学内・学外)の表記は本サイト独自のものです。

皆様のご協力をお願い致します。

ARM200F 不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在ゴニオステージの不具合のため、2軸傾斜ホルダが使用できません。

試料傾斜を伴わない中低倍の形態観察や元素マッピング等は実施可能です。

ご利用予定の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが復旧までしばらくお待ちください。

 

JEM-ARM200F不具合(復旧)

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは復旧いたしました。

使用をご希望の方は当室までお尋ねください。

ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはできる限り4月以降のご予約をお願いいたします。

なお、STEM像にノイズが乗る不具合については応急対策済みですが、3月中に本対策を予定しています。

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JEM-ARM200F不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在不具合のため使用できません。

復旧の見通しが立つまで、マシンタイムの予約は停止させていただきます。お忙しいところ大変ご迷惑をおかけいたしますがご協力をお願いいたします。

(参考)不具合の内容 2017/02/16現在

  • 重大な不具合(観察不能)
    • ブライトネスを変えると、像の大きさが変わり回転する。
    • フォーカスが合わせられない。
  •  中程度の不具合(一応観察は可能・実験条件によっては使用不可)
    • STEM像にノイズが乗る(応急対策済み)
    • EELSでゼロロスが大きく動く(10ev程度)ことがある。(時々)
  • 軽微な不具合
    • HAADF検出器の挿入に時間がかかる。
    • STEMモードでフォーカスが経時変化することがある。

 

 

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200F

Jeol JEM-ARM200F(200kV,Cold-FE)

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  • 型式 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡
  • 電子銃  冷陰極電界放出形電子銃
  • 加速電圧 200kV、80kV
  • 球面収差補正(照射系・結像系) Wコレクタ仕様
  • 分解能(200kV)
    • STEM-HAADF 100pm
    • TEM 粒子像 130pm
    • TEM格子像 70pm
  • 最大試料傾斜角 X±35°/Y±30°
  • 用途
    • 高分解能TEM観察
    • 高分解能STEM観察(HAADF/LAADF/ABF/BF)
    • TEM-EDS/STEM-EDS
    • TEM-EELS/STEM-EELS

※本装置は東北大学ナノテク融合支援技術センター・文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業との共同運用になります。

※所外ユーザーの方は東北大学ナノテク融合支援技術センター経由(ナノテク枠)での利用をお願いしております。

収差補正電子顕微鏡の移管について

利用者各位
いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
10月20日に開催された教授会で承認されたとおり、 文科省ナノテクノロジープラットフォーム事業(ナノプラ)より本所へ導入した収差補正電子顕微鏡( 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡 )について、ナノプラ・分析コアの共同管理による運用を行うこととなりました。当室利用者の皆様におきましては当該装置の使用が可能になりますので是非ご活用ください。
装置の利用方法等、詳細は当室スタッフまでご確認ください。

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