透過電子顕微鏡 JEM-2000EXII JEOL JEM-2000EXII(200kV、LaB6) 設置年度:平成元年 特 徴:高傾斜観察( 試料傾斜角:X=±60°、Y=±38°) 分解能:0.23nm 高コントラスト観察 試料加熱ホルダー(最高加熱温度:約800℃) 試料冷却ホルダー
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