透過電子顕微鏡 JEM-2000EXII

JEOL JEM-2000EXII(200kV、LaB6)

設置年度:平成元年

特  徴:高傾斜観察( 試料傾斜角:X=±60°、Y=±38°)

分解能:0.23nm

高コントラスト観察

試料加熱ホルダー(最高加熱温度:約800℃)

試料冷却ホルダー

 

crossorigin="anonymous" integrity="sha256-vSzHxtKsgE3bQuUJw/jVoaVV8+qUYjS+tPD38NMj5Ec="