ダイヤモンドワイヤ切断機を導入しました。



利用者各位
平成30年度の指定国立大学補助金(材料拠点) でダイヤモンドワイヤ切断機を導入いたしました。
湿式切断・乾式切断共に可能ですので、脆性材料や複合材料などの難加工試料の作製にご活用下さい。

装置仕様は下記メーカーサイトをご参照下さい。
(詳細は異なる場合がありますので、当室まで直接ご確認下さい。)
http://www.newmetals.co.jp/details/428.html

装置利用に関する注意事項

【主な対象者】
装置を自分で操作したい方。
費用を節約したい方。
時間外(スタッフ不在時)も使用したい方。
(本学職員・本所の学生のみ)

装置利用には利用手続きが必要になります。

当該装置の基本的な操作を単独で行える方が対象となります。

  • 単独で使用できない方は技術支援をご依頼ください。
  • 使用経験がない方は、 所属研究室もしくは当室スタッフによる トレーニングが必要となります。
  • 実験補助(立合実験)・実験代行・トレーニングは技術支援をご依頼ください。

スタッフによる実験的判断が必要な場合は技術支援の対象となります。

予約時間に応じた装置使用料が発生いたします。

予約システムで直接マシンタイムの予約をしていただきます。

  • システムより予約可能な時間帯は平日10:00-17:00です。
  • 実験実施日の前の週までシステムによる予約が可能です。
    (直前の予約はスタッフにご依頼ください。)
  • 時間外の使用を希望される場合はスタッフにご依頼ください。
    (使用者の技能・実験内容を考慮し個別に許可します。)
  • 使用日前日までシステムよりキャンセル可能です。
    (当日キャンセルはスタッフまで直接ご連絡ください。)

使用開始日時以降のキャンセルは使用料金の全額を頂戴します。

技術支援に関する注意事項

【主な対象者】
・自分で装置を操作できない方。(慣れていない方)
・試料作製を依頼したい方。
・立合観察(実験補助)を依頼したい方。
・実験代行を依頼したい方。
・トレーニングを受けたい方。
・データ解析を依頼したい方。

装置利用には利用手続きが必要になります。

当室スタッフによる技術支援を受けた場合は装置使用料に加えて、支援要した時間に応じて技術支援料を頂戴いたします。なお、装置上のトラブル対応や、使用方法に関する軽微な問い合わせ・実験補助については課金の対象とはなりません。

軽微な実験補助の例(課金対象外)

  • 電子顕微鏡以外の装置に関する操作トレーニング。
  • 装置の使用方法確認(短時間で済むもの)
  • 試料ホルダへの試料取り付け。
  • 簡易な視野探し
    (膜厚や固定の状態のみから判断。方位や組織は考慮せず)
  • 簡易な軸調整(大きくずれている場合や、磁性材料は除く)。
  • 方位出し(単結晶もしくは粗大粒試料で既知の単純構造の低指数面)

技術支援の例(課金対象)

  • 電子顕微鏡の操作トレーニング
  • 試料作製代行
    • 予備加工・薄膜化・予備観察
  • 電子顕微鏡観察代行
    • 視野選択・方位出し・写真撮影・分析
  • データ解析
    • 電子回折パターンの指数付け(既知構造)
    • EDS/EELSの簡易定量解析
    • フィルター処理
    • 像シミュレーション

申し込み

試料作製代行、実験(観察)代行、技術支援を伴う装置利用(立合実験)を利用される際は、スタッフに直接お申し込みください。
(予約システムで予約を行った場合は、対応できない場合があります。)

実験代行を依頼される場合

  • 実験目的・内容・手順を具体的に指示してください。
  • 十分な数量の実験試料をご提供ください。
  • 実験方法の選択にお悩みの場合はあらかじめご相談ください。

研究上の「判断」は基本的に依頼者が行うものです。したがって実験代行を依頼される場合は、実験方法や視野選択の判断基準などあらかじめ具体的に指示をいただく必要がございます。

作業内容の指示が具体的でない、標準的ではない手順で実験する場合は実験にあたって当室スタッフが「判断」を行う必要がでてくるため、「技術支援」としてお引き受けできないことがあります。

当室スタッフによる実験上の「判断」が必要になる場合は、「共同研究」としてお引き受けできる場合がございます。

不明な点はお尋ねください。

EM-002B不具合

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みです。

現状において、一応観察は可能ですが、突然再発する可能性が否定できません。また、本不具合に伴い、実験上の制限が生じております。

年度末の時期であり、マシンタイムも混雑しておりますので、当面は利用停止の措置をとる予定はございませんが、当日突然使用できなくなるもしくは十分な質のデータが得られない等の可能性がございます。締切の近い実験等については、他部署の利用もご検討下さい。

利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

主な不具合内容

  • 放電によるビームのちらつき。
  • エミッション回路・高圧タンクのいずれかまたは両方の不調。
  • エミッション電流の低下。(観察像の明るさ、EDSのカウント数不足の可能性)

対応

  • 新規の直接予約停止(利用希望の方は直接ご連絡ください。)
  • メーカーエンジニアによる点検・修理を予定していますが、補修部材の調達に時間がかかる恐れがあるため、復旧時期は未定です。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

料金等改定のお知らせ

利用者各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

2019年1月17日、材料分析研究コア内規群が改訂されました。本改訂に伴い、主に以下の点が変更されます。

  1. 利用者資格の変更 (学外利用者の受け入れ)
    • 本学職員と研究上の協力関係を有する他の大学・研究機関等の研究者及び技術者のうち、本学職員からの紹介があったものの利用が許可されます。
  2. 利用料金の改訂
    • 利用料金は直近の稼働実績および運転・維持費当の変動に応じて随時見直されます。
    • 学外利用者向けの料金を新設しました。
    • 新料金は2019/4/1使用分より適応されます。
    • 新料金はこちらのページ
  3. 使用申請書様式の改訂
    • 2019/4/1以降の使用申請には新様式をご使用ください。

不明な点は当室スタッフまでお尋ねください。

分析電顕室

ARM200F不具合(一部復旧)

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられます。利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

不具合内容

  • インギャップ絞りの変形
  • ポールピースキャップ外れ

対応

  • 変形したOLAは既に取り外し済で、1月中に交換予定です。(交換しました。)
  • ポールピースキャップの取り付けにはポールピースを取り外す必要があるため、大規模メンテナンスまでの間当面は取り外したまま使用いたします。

影響

  • OLA(upper)使用不可
  • EDS測定においてCo等のバックグラウンドレベルが上昇する場合がある。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

エアコン不良(復旧しました)

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室のエアコンが故障しており、TEMの排熱が困難な状況となっているため、一時的な対策として、ドア、窓および仕切りカーテンを開放しております。大変ご不便をおかけしますが、ご協力のほどお願いします。

分析電顕室

JEM-ARM200Fの利用について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室では原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fを東北大学ナノテク融合技術支援センターと共同運用いたしておりますが、当該装置は文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム(ナノテク)」事業において導入されており、使用においてはいくつかの制限がかかっております。

上記事業の費用において導入された設備については、外部共用率の目標を50%以上とすることが求められており、当室で管理している時間枠は外部共用を除いた分(分析枠)となります。外部共用率に計上可能な案件は、原則として学外利用者による公開案件のみとなります。例外として、実施部局(本所)以外のユーザーは1/3を上限に外部共用にカウントすることが可能です。

従って、所内ユーザーはナノテク枠(学内)の使用を申請することができないため、分析枠で対応することとなります。 また、制限を超えた利用を行うことで、場合によっては事業縮小や停止等のペナルティを受ける可能性がございます。 現在所内外の多数のユーザーの方に当該装置をご利用頂いておりますが、本年度分の分析枠は既に枯渇しかかっております。なお、上述の通り学内の所外ユーザの方もナノテク枠(全体)の最大1/3までしか使用できませんので、ナノテク枠(学内)も逼迫しており必要な実験が行えない恐れが出てきております。

以上の事から、分析枠・ナノテク枠(学内)の枯渇を抑制し、できるだけ多くの利用者に当該装置の利用機会を提供する為に、利用者の方には以下の対応をとるようお願い致します。

  • 所外ユーザーはナノテク枠(学内)の使用をお願いします。
  • 企業や他大学との共同研究等で利用される場合は、共同研究先の方の名義によるナノテク枠(学外)での利用申請が可能かご検討ください。(枠の制限がかからないため、タイムを取りやすくなります。)

※本要請はあくまでも依頼であり、所外ユーザーにナノテク枠の利用を強制するものではありません。

※※ナノテク枠の利用にあたっては課題審査及び利用報告書の提出等が必要となりますが、研究遂行の負担にならないよう「東北大学ナノテク融合技術支援センター」がフォローいたします。詳細はお問い合わせください。http://cints-tohoku.jp/

※※※分析枠からナノテク枠への切り替えを含む不明な点については当室までご相談ください。

※※※※分析枠・ナノテク枠(全体・学内・学外)の表記は本サイト独自のものです。

皆様のご協力をお願い致します。

オスミウムコータ使用できます。

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

オスミウムコータが導入され使用準備が整いましたのでご連絡いたします。

使用を希望される方は当室までお問い合わせください。


メイワフォーシス株式会社 製 Neocオスミウムコータ

メーカーサイトhttp://www.meiwafosis.com/products/neoc/neoc_tokucho.html

装置不具合 イオンミリング

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在・イオンミリング装置Model1010 (fischione) が使用不能となっております。従って、機器利用並びに本装置を用いた試料作製を実施できない状況です。

既に試料作製を依頼されている方や、今後依頼される予定の方でお急ぎの場合は他部署への振替などをご検討頂きますようお願い申し上げます。

原因は排気系の不具合と推定されますが詳細については調査中です。

復旧の見通しがつき次第、再度アナウンスさせていただきます。

詳細についてはお問い合わせください。

以上よろしくお願いします。

金研・分析電顕室

2018年度利用申請のお願い

利用者各位

いつも金研分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

当室の利用には研究室毎年度毎に利用申請が必要になります。4月以降の利用を予定されている方は、以下の申請書に必要事項を記入し提出してください。

予約システムのユーザー登録のみでは装置予約はできません。

継続利用の研究室につきましても、申請書の提出が必要です。申請書の作成にあたって不明な点等ございましたら、当室スタッフまでお問い合わせください。

申請書(2018)
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装置・施設の予約ルール(最大予約数の制限)について

利用者の皆様

いつも分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。

当室が管理する装置のWEB予約におけるルールは

  • (電子顕微鏡)翌週以降のみ可。
  • (イオンミリング・スライサ)翌々週以降のみ可。
  • 当日キャンセル不可。

となっており、予約最大数には制限を設けておりませんでしたが、このところ稼働率が上昇し予約を取りにくい状態が生じつつありますので、できるだけ多くの方に装置の利用機会を提供するために、今後は装置毎にWEB上で可能な同時予約可能最大数を2回までとさせていただきます(2回先の分まで予約可能)

実験の都合で3回以上のタイムを同時に予約する必要がある場合は、管理者までお問い合わせください。(タイムの混雑具合を考慮したうえで、管理者側で予約を入れさせていただきます。)

この制限は研究室毎では無く、ユーザー毎に適用されますので、複数のエンドユーザーのためにオペレーター役の利用者がまとめて予約をとっていたような場合は、エンドユーザーそれぞれが予約を取ることで回数制限がかかりにくくなります。

※WEB予約は実際に来室される方が行ってください。(アカウントの共有・使い回しはご遠慮ください。)

ご迷惑をおかけしますが皆様のご理解ご協力をお願い致します。

金研・分析電顕室

 

 

 

年始年末の閉室について (2017~2018)

利用者各位

いつも金研分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。
標記の件について、下記の通り当室を閉室致します。
ご迷惑をおかけしますがよろしくお願い申し上げます。


閉室期間 : 2017/12/29(金)~2017/1/4(木)

以上

2000EX-II メンテナンス

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

下記の通り、JEM-2000EXIIのメンテナンスを行います。メンテナンス期間中は当該装置をご使用になれません。年末のお忙しい時期にご迷惑をおかけ致しますが、ご理解ご協力のほどお願いします。

  • JEM-2000EX補修作業
  • 日程  2017/12/15-12/20
  • 作業内容 電子銃及び高圧タンクの交換 他

 

 

停電対応について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

当室・及び当サイトは、事業所の計画停電に伴い、下記の通り休止いたします。

  • 停電期間

 2017年8月5日(土) 7:30~2017年8月6日(日)18:00

  • 休止期間

(装置類・WEBサイト)

2017年8月4日(金) 17:00~2017年8月7日(日)10:00頃

電子顕微鏡につきましては停電明けの8/7は全日起動調整の予定となっております。

以上ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

 

ARM200F 不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在ゴニオステージの不具合のため、2軸傾斜ホルダが使用できません。

試料傾斜を伴わない中低倍の形態観察や元素マッピング等は実施可能です。

ご利用予定の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが復旧までしばらくお待ちください。

 

EM-002B不具合

利用者の皆様

分析電子顕微鏡 EM-002Bは試料ステージ不調のため試料傾斜を伴う観察が困難になっております。

その他の不具合対策を含めて3/17にメーカーのエンジニアによる調整修理を予定しております。

現在でもマシンタイムの予約は受け付けておりますが、非常に使いにくい状態ですのでご了承ください。(修理完了までの期間は課金対象と致しません。)

不明な点はお尋ねください。

大変ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

JEM-ARM200F不具合(復旧)

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは復旧いたしました。

使用をご希望の方は当室までお尋ねください。

ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはできる限り4月以降のご予約をお願いいたします。

なお、STEM像にノイズが乗る不具合については応急対策済みですが、3月中に本対策を予定しています。

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