技術情報（準備中）

本ページは当室を利用する上で役立つ情報のまとめです（現在準備中）

TEM使用方法

  1. JEM-2100plus
  2. JEM-ARM200F
  3. JEM-2000EXII
  4. EM-002B

トレーニング

  1. 試料着脱
  2. 昇圧・ビーム出し・照射系軸調整・休止・終了
  3. カメラ操作（表示・記録）
  4. TEM：中低倍像観察
  5. TEM：DIFF1（方位出し不要の場合）
  6. TEM：DIFF2（要方位微調整・粗大粒の場合）
  7. TEM：DIFF3（要方位出し・粗大粒の場合）
  8. TEM：DIFF4（NBD・CBED）
  9. STEM：中低倍像観察
  10. STEM：EDS
  11. STEM：EELS
  12. STEM：高分解能観察1（微粒子・単原子・方位出し不要の場合）
  13. STEM：高分解能観察2（バルク結晶試料・要方位出し）

試料作製関係

  1. イオンミリング（平面）
  2. イオンミリング（断面）
  3. イオンスライサ
  4. 電解研磨
  5. FIB
  6. 懸濁法

便利なソフトウェア（無償・有償）

  1. ReciPro
  2. CrysTBox
  3. ImageJ
  4. Vesta
  5. GMS/DigitalMicrograph Software（GATAN)
  6. Analysis Station(オフライン版)（JEOL）

その他の技術情報