ARM200F, メンテナンス関係

ARM200F 不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡　JEM-ARM200Fは現在ゴニオステージの不具合のため、2軸傾斜ホルダが使用できません。

試料傾斜を伴わない中低倍の形態観察や元素マッピング等は実施可能です。

ご利用予定の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが復旧までしばらくお待ちください。

 

002B, お知らせ, メンテナンス関係

EM-002B不具合

利用者の皆様

分析電子顕微鏡　EM-002Bは試料ステージ不調のため試料傾斜を伴う観察が困難になっております。

その他の不具合対策を含めて３／１７にメーカーのエンジニアによる調整修理を予定しております。

現在でもマシンタイムの予約は受け付けておりますが、非常に使いにくい状態ですのでご了承ください。（修理完了までの期間は課金対象と致しません。）

不明な点はお尋ねください。

大変ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

ARM200F, お知らせ, メンテナンス関係

JEM-ARM200F不具合（復旧）

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡　JEM-ARM200Fは復旧いたしました。

使用をご希望の方は当室までお尋ねください。

ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはできる限り4月以降のご予約をお願いいたします。

なお、STEM像にノイズが乗る不具合については応急対策済みですが、3月中に本対策を予定しています。

続きを読む JEM-ARM200F不具合（復旧） →

ARM200F, メンテナンス関係

JEM-ARM200F不具合

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡　JEM-ARM200Fは現在不具合のため使用できません。

復旧の見通しが立つまで、マシンタイムの予約は停止させていただきます。お忙しいところ大変ご迷惑をおかけいたしますがご協力をお願いいたします。

（参考）不具合の内容　2017/02/16現在

  • 重大な不具合（観察不能）
    • ブライトネスを変えると、像の大きさが変わり回転する。
    • フォーカスが合わせられない。
  •  中程度の不具合（一応観察は可能・実験条件によっては使用不可）
    • STEM像にノイズが乗る（応急対策済み）
    • EELSでゼロロスが大きく動く（10ev程度）ことがある。（時々）
  • 軽微な不具合
    • HAADF検出器の挿入に時間がかかる。
    • STEMモードでフォーカスが経時変化することがある。

 

 

TIPS

電子顕微鏡施設のリンク集（作成中）

  • 大学（国内）
大学施設備考
九州大学超顕微解析研究センター
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
京都大学先端ビームナノ科学センター
名古屋大学超高圧電子顕微鏡施設
東京大学超高圧電子顕微鏡室
東北大学先端電子顕微鏡センター
北海道大学超高圧電子顕微鏡室
お知らせ

年始年末の閉室について

利用者各位
いつも金研分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。
標記の件について、下記の通り当室を閉室致します。
ご迷惑をおかけしますがよろしくお願い申し上げます。

記
閉室期間　：　2016/12/29（木）～2017/1/3（火）

以上

ユーザー向け情報

GMS オフライン版取得方法

ユーザー各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。

当室管理の装置で取得した実験データの持ち出し方法は様々ですが、Gatan社　GMSのネイティブフォーマットであるdm3,　dm4形式での取り扱いを推奨しております。

実験データの閲覧目的であれば、Free-offline版のGMSがGatan社より提供されておりますので、そちらの利用をお勧めします。

Free-offline版のGMSの取得方法は　こちら　をご覧ください。

上記リンク（PDF)はGMSバージョン2の取得方法の解説になりますが、現在フリーのGMSはバージョン３のみが提供されております。詳細な取得方法についてはGatan社のサイトをご覧ください。

http://www.gatan.com/products/tem-analysis/gatan-microscopy-suite-software

標準の画像ビューアによる閲覧の容易さから、8bit-TIFFやBMP形式を選択される方も多数おられますが、これらの形式に変換することで、スケールバーが埋め込まれてしまい、リサイズやトリミングを困難にする場合があります。また、このファイル形式の変換に伴って色深度が16bitから8bitへ落とされることから、厳密には情報が欠落してしまいます。

情報量を保ったままデータを持ち出すためには、16bit－Tiffを用いる方法もありますが、対応しているソフトウェアが制限されてしまいます。

なお、オープンソースソフトウェアのImagejでもdm3形式（現在dm4には対応していない模様）のファイルを直接読み込み可能です。

不明な点はお尋ねください。

ARM200F

原子分解能走査透過電子顕微鏡　JEM-ARM200F

Jeol　JEM-ARM200F(200kV,Cold-FE)

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  • 型式　日本電子製　JEM-ARM200F　原子分解能分析電子顕微鏡
  • 電子銃　 冷陰極電界放出形電子銃
  • 加速電圧　200kV、80kV
  • 球面収差補正（照射系・結像系）　Wコレクタ仕様
  • 分解能(200kV)
    • STEM-HAADF 100pm
    • TEM 粒子像　130pm
    • TEM格子像　70pm
  • 最大試料傾斜角　X±35°／Y±30°
  • 用途
    • 高分解能TEM観察
    • 高分解能STEM観察（HAADF/LAADF/ABF/BF）
    • TEM-EDS/STEM-EDS
    • TEM-EELS/STEM-EELS

※本装置は東北大学ナノテク融合支援技術センター・文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業との共同運用になります。

※所外ユーザーの方は東北大学ナノテク融合支援技術センター経由（ナノテク枠）での利用をお願いしております。

ARM200F, お知らせ, ユーザー向け情報

収差補正電子顕微鏡の移管について

利用者各位
いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
10月20日に開催された教授会で承認されたとおり、 文科省ナノテクノロジープラットフォーム事業（ナノプラ）より本所へ導入した収差補正電子顕微鏡（ 日本電子製　JEM-ARM200F　原子分解能分析電子顕微鏡 ）について、ナノプラ・分析コアの共同管理による運用を行うこととなりました。当室利用者の皆様におきましては当該装置の使用が可能になりますので是非ご活用ください。
装置の利用方法等、詳細は当室スタッフまでご確認ください。

dsc_000001-1dsc_000001
続きを読む 収差補正電子顕微鏡の移管について →

お知らせ

サイト休止のお知らせ（停電対応）

本サイトは下記の通り休止致します。

記

期間　2016年8月5日(金）　17:00頃～2016年8月8日（月）10:00頃

理由　8月7日（日）に片平団地の計画停電が予定されているため。

上記期間中はWEB予約システム等も停止いたします。

停止期間は前後する場合がございます。

以上ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

 

お知らせ, ユーザー向け情報

予約WEBシステムへのユーザー登録に関する不具合について

利用者各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
当室の予約WEBシステムのご使用には利用者毎のユーザー登録が必要になりますが、サーバーの更新に伴いWEBサイト上からのユーザー登録フォームが正しく機能しない状態になっておりました。

利用者の皆様にはご不便をおかけし申し訳ありません。

既にプログラムには修正を施し正常にユーザー登録が可能であることを確認しております。

取り急ぎご報告申し上げます。

お知らせ

当サイトのアドレスを変更しました。

当サイトのURLを下記の通り変更しました。
ブックマークを登録されている場合は変更のほどよろしくお願いします。

旧URL　aem-www.imr.tohoku.ac.jp/wordpress/
新URL　aem-www.imr.tohoku.ac.jp/

当面は旧URLの使用も可能です。旧URLで本サイトにアクセスした場合は、自動的に新URLにリダイレクトされますが、一部のページについては正しく表示されない可能性があります。不明な点は当室スタッフまでお問い合わせください。

お知らせ

熊本地震による被災地域の研究者支援

この度の熊本地震により被災された皆様に、心よりお見舞い申し上げます。

分析電顕室では熊本地震被災地の材料科学分野の研究者に対する分析・解析支援を行っております。本ホームページに掲載してある装置を用いた電子顕微鏡による構造解析に関わる支援をご希望される場合、技術的に対応可能かどうかを個別にご相談させていただきますので、まず下記のアドレスに直接問合せをしてください。

電子顕微鏡　nagasako　（担当：長迫）

元素分析に関わる支援については分析コアのホームページ（http://bunseki-core.imr.tohoku.ac.jp/ ）をご覧ください。

お知らせ, ユーザー向け情報

装置利用料金及び使用可能財源の改訂について

利用者の皆様

先般お知らせしましたとおり、今年度より当室の利用料金並びに使用可能財源の改定を予定しておりましたが、必要な手続きが完了しましたのでお知らせ致します。

改訂後の使用可能財源（負担経費）は以下の通りです。

  • 運営費交付金
  • 寄附金
  • 間接経費
  • 科学研究費助成金
  • 受託研究費
  • 共同研究費
  • 受託事業費
  • 預り補助金
  • 等

利用料金は以下の通りです。

 装置等料金備考
1TOPCON
EM-002B		￥1,500/h
2JEOL
JEM-2000EX II		￥1,000/hフィルム代 400円/枚
3JEOL
JEM-ARM200F		￥3,000/h初習者の単独使用はできません。観察代行・もしくは立会観察をご依頼ください。
4イオンスライサ￥1,500/h前処理*を含まない
5イオンミリング￥300/h前処理**を含まない
6試料作製準備室￥500/半日(4h)低速カッター、平行研磨機、
回転湿式研磨機、バフ、
ホットプレート、ディンプラー、
光学顕微鏡等
7試料作製消耗品無料（準備室使用者）研磨紙、補強用メッシュ、
接着剤、研磨砥粒等
一部消耗品は実費
8技術支援料￥3,000/h

利用料金詳細

負担経費ごとに利用申請手続きが必要になります。 不明な点は当室スタッフへお尋ねください。

 

ユーザー向け情報

試料作製手順　（バルク・平面試料）

試料作製手順（平面試料）

 工程内容主な使用装置
1切り出し厚さ500μm～1mm程度の板状試料を切り出す。低速カッター
2粗研磨・平行研磨厚さ100μm以下の平行な板状に研磨する。
平行研磨機・耐水研磨紙
3打ち抜き・ディスク加工φ3mmの円板状に加工する。
試料サイズがやや足りない場合も後述のメッシュ貼り付けで対応可能な場合は次の工程へ。		ディスクパンチ・超音波加工機
4精研磨厚さ20-50μm程度に薄板化する。
強磁性体はできるだけ薄くする。
薄くしすぎると試料が変形する場合がある。		平行研磨機・耐水研磨紙
5仕上げ研磨鏡面研磨する。バフ研磨機
6ディンプリング試料中心に凹みをつける。
ダメージが問題になる場合は省略する場合もある。		ディンプラー
7補強メッシュ貼り付け必要に応じて補強メッシュを貼り付ける。エポキシ系接着剤・ホットプレート
8本加工（イオン研磨）薄膜化する。
試料材質及びディンプリング後の初期厚さで加工時間が大きく変わります。		イオンミリング
通常の無機・金属材料平面試料の加工手順

前処理（予備加工）:手順1～7
本加工：手順8

当室利用者は本加工のみ、または前処理を含めた全行程を当室に依頼できます。
本加工のみを当室で行う場合は、装置利用料のみが課金されます。
前処理を当室に依頼する場合は、作業時間に応じた技術支援料が課金されます。
ユーザー向け情報

装置予約システム使用方法を掲載しました

利用者各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

装置予約システムの使用方法を更新しました。当室の使用には、利用申請手続きに加えて、ユーザー毎にWEB上で装置予約システムへの登録が必要になります。ご利用を予定されている方は予め予約システムへのユーザー登録をお願いします。