利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在当室管理の分析透過電子顕微鏡「Em-002B」が故障のため使用不能となっております。復旧は早くとも2020年1月末となる見込みです。ご使用予定の皆様には大変ご迷惑をおかけして申し訳ありません。代替装置等については当室までご相談ください。
分析電顕室
「メンテナンス関係」カテゴリーアーカイブ
EM-002B不具合
利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みです。
現状において、一応観察は可能ですが、突然再発する可能性が否定できません。また、本不具合に伴い、実験上の制限が生じております。
年度末の時期であり、マシンタイムも混雑しておりますので、当面は利用停止の措置をとる予定はございませんが、当日突然使用できなくなるもしくは十分な質のデータが得られない等の可能性がございます。締切の近い実験等については、他部署の利用もご検討下さい。
利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。
主な不具合内容
- 放電によるビームのちらつき。
- エミッション回路・高圧タンクのいずれかまたは両方の不調。
- エミッション電流の低下。（観察像の明るさ、EDSのカウント数不足の可能性）
対応
- 新規の直接予約停止（利用希望の方は直接ご連絡ください。）
- メーカーエンジニアによる点検・修理を予定していますが、補修部材の調達に時間がかかる恐れがあるため、復旧時期は未定です。
原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。
分析電顕室
ARM200F不具合（一部復旧）
利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられます。利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。
不具合内容
- インギャップ絞りの変形
- ポールピースキャップ外れ
対応
変形したOLAは既に取り外し済で、1月中に交換予定です。（交換しました。）- ポールピースキャップの取り付けにはポールピースを取り外す必要があるため、大規模メンテナンスまでの間当面は取り外したまま使用いたします。
影響
OLA(upper)使用不可- EDS測定においてCo等のバックグラウンドレベルが上昇する場合がある。
原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。
分析電顕室
変形した対物絞り 
外れたポールピースキャップ 
対物レンズ内の様子
【復旧】 イオンミリング
利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
先日アナウンスした、イオンミリング装置Model1010 (fischione)の不具合は解消いたしました。
金研・分析電顕室
装置不具合 イオンミリング
利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在・イオンミリング装置Model1010 (fischione) が使用不能となっております。従って、機器利用並びに本装置を用いた試料作製を実施できない状況です。
既に試料作製を依頼されている方や、今後依頼される予定の方でお急ぎの場合は他部署への振替などをご検討頂きますようお願い申し上げます。
原因は排気系の不具合と推定されますが詳細については調査中です。
復旧の見通しがつき次第、再度アナウンスさせていただきます。
詳細についてはお問い合わせください。
以上よろしくお願いします。
金研・分析電顕室
2000EX-II メンテナンス
利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
下記の通り、JEM-2000EXIIのメンテナンスを行います。メンテナンス期間中は当該装置をご使用になれません。年末のお忙しい時期にご迷惑をおかけ致しますが、ご理解ご協力のほどお願いします。
記
- JEM-2000EX補修作業
- 日程 2017/12/15-12/20
- 作業内容 電子銃及び高圧タンクの交換 他
JEM-ARM200F不具合（復旧）
利用者の皆様
原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fで生じていた試料ステージのトラブル（Ｙチルト不良）は解消いたしました。
ARM200F 不具合
利用者の皆様
原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在ゴニオステージの不具合のため、2軸傾斜ホルダが使用できません。
試料傾斜を伴わない中低倍の形態観察や元素マッピング等は実施可能です。
ご利用予定の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが復旧までしばらくお待ちください。
EM-002B 不具合（復旧）
利用者の皆様
分析電子顕微鏡 EM-002Bにおいて発生していた試料ステージ不調は３／１７、１８の調整修理によって、概ね解消致しました。
EM-002B不具合
利用者の皆様
分析電子顕微鏡 EM-002Bは試料ステージ不調のため試料傾斜を伴う観察が困難になっております。
その他の不具合対策を含めて３／１７にメーカーのエンジニアによる調整修理を予定しております。
現在でもマシンタイムの予約は受け付けておりますが、非常に使いにくい状態ですのでご了承ください。（修理完了までの期間は課金対象と致しません。）
不明な点はお尋ねください。
大変ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。
JEM-ARM200F不具合（復旧）
利用者の皆様
原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは復旧いたしました。
使用をご希望の方は当室までお尋ねください。
ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはできる限り4月以降のご予約をお願いいたします。
なお、STEM像にノイズが乗る不具合については応急対策済みですが、3月中に本対策を予定しています。
JEM-ARM200F不具合
利用者の皆様
原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは現在不具合のため使用できません。
復旧の見通しが立つまで、マシンタイムの予約は停止させていただきます。お忙しいところ大変ご迷惑をおかけいたしますがご協力をお願いいたします。
（参考）不具合の内容 2017/02/16現在
- 重大な不具合（観察不能）
- ブライトネスを変えると、像の大きさが変わり回転する。
- フォーカスが合わせられない。
- 中程度の不具合（一応観察は可能・実験条件によっては使用不可）
- STEM像にノイズが乗る（応急対策済み）
- EELSでゼロロスが大きく動く（10ev程度）ことがある。（時々）
- 軽微な不具合
- HAADF検出器の挿入に時間がかかる。
- STEMモードでフォーカスが経時変化することがある。
真空計追加
2000EXIIの鏡筒に真空計をつけました（試料ホルダーの出し入れ時に真空度のモニタができます）。
メンテナンス情報（002B）
002Bのメンテナンスを行い、以下の点改善されております。
1.対物絞り交換を行いました（最小絞り径が一回り小さくなっています）。
2.対物絞りの動きがスムーズになりました。
3.Diff focusの動作が改善されました（改善した原因は？）。