「ユーザー向け情報」カテゴリーアーカイブ

分析電子顕微鏡(EM-002B)補修作業のお知らせ

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
本日より下記の通り電子顕微鏡の補修作業を行います。期間中は当該顕微鏡は当該顕微鏡の使用はできません。また、作業の都合上ドアの開閉や騒音の発生等で他の装置を使用される方への影響も考えられます。
ご迷惑をおかけしますが、ご協力をお願い致します。

  1. 期間 2019/05/27-2019/06/07
  2. 対象装置 EM-002B
  3. 作業内容 高圧タンク及び高圧ケーブルの交換他

参考 https://aem-www.imr.tohoku.ac.jp/em-002b%e4%b8%8d%e5%85%b7%e5%90%88-2/

不明な点は当室までお問い合わせください。

分析電子顕微鏡室

ダイヤモンドワイヤ切断機を導入しました。



利用者各位
平成30年度の指定国立大学補助金(材料拠点) でダイヤモンドワイヤ切断機を導入いたしました。
湿式切断・乾式切断共に可能ですので、脆性材料や複合材料などの難加工試料の作製にご活用下さい。

装置仕様は下記メーカーサイトをご参照下さい。
(詳細は異なる場合がありますので、当室まで直接ご確認下さい。)
http://www.newmetals.co.jp/details/428.html

装置利用に関する注意事項

【主な対象者】
装置を自分で操作したい方。
費用を節約したい方。
時間外(スタッフ不在時)も使用したい方。
(本学職員・本所の学生のみ)

装置利用には利用手続きが必要になります。

当該装置の基本的な操作を単独で行える方が対象となります。

  • 単独で使用できない方は技術支援をご依頼ください。
  • 使用経験がない方は、 所属研究室もしくは当室スタッフによる トレーニングが必要となります。
  • 実験補助(立合実験)・実験代行・トレーニングは技術支援をご依頼ください。

スタッフによる実験的判断が必要な場合は技術支援の対象となります。

予約時間に応じた装置使用料が発生いたします。

予約システムで直接マシンタイムの予約をしていただきます。

  • システムより予約可能な時間帯は平日10:00-17:00です。
  • 実験実施日の前の週までシステムによる予約が可能です。
    (直前の予約はスタッフにご依頼ください。)
  • 時間外の使用を希望される場合はスタッフにご依頼ください。
    (使用者の技能・実験内容を考慮し個別に許可します。)
  • 使用日前日までシステムよりキャンセル可能です。
    (当日キャンセルはスタッフまで直接ご連絡ください。)

使用開始日時以降のキャンセルは使用料金の全額を頂戴します。

技術支援に関する注意事項

【主な対象者】
・自分で装置を操作できない方。(慣れていない方)
・試料作製を依頼したい方。
・立合観察(実験補助)を依頼したい方。
・実験代行を依頼したい方。
・トレーニングを受けたい方。
・データ解析を依頼したい方。

装置利用には利用手続きが必要になります。

当室スタッフによる技術支援を受けた場合は装置使用料に加えて、支援要した時間に応じて技術支援料を頂戴いたします。なお、装置上のトラブル対応や、使用方法に関する軽微な問い合わせ・実験補助については課金の対象とはなりません。

軽微な実験補助の例(課金対象外)

  • 電子顕微鏡以外の装置に関する操作トレーニング。
  • 装置の使用方法確認(短時間で済むもの)
  • 試料ホルダへの試料取り付け。
  • 簡易な視野探し
    (膜厚や固定の状態のみから判断。方位や組織は考慮せず)
  • 簡易な軸調整(大きくずれている場合や、磁性材料は除く)。
  • 方位出し(単結晶もしくは粗大粒試料で既知の単純構造の低指数面)

技術支援の例(課金対象)

  • 電子顕微鏡の操作トレーニング
  • 試料作製代行
    • 予備加工・薄膜化・予備観察
  • 電子顕微鏡観察代行(立会観察・実験補助を含む)
    • 視野選択・方位出し・写真撮影・分析
  • データ解析
    • 電子回折パターンの指数付け(既知構造)
    • EDS/EELSの簡易定量解析
    • フィルター処理
    • 像シミュレーション

申し込み

試料作製代行、実験(観察)代行、技術支援を伴う装置利用(立合実験)を利用される際は、スタッフに直接お申し込みください。
(予約システムで予約を行った場合は、対応できない場合があります。)

実験代行を依頼される場合

  • 実験目的・内容・手順を具体的に指示してください。
  • 十分な数量の実験試料をご提供ください。
  • 実験方法の選択にお悩みの場合はあらかじめご相談ください。

研究上の「判断」は基本的に依頼者が行うものです。したがって実験代行を依頼される場合は、実験方法や視野選択の判断基準などあらかじめ具体的に指示をいただく必要がございます。

作業内容の指示が具体的でない、標準的ではない手順で実験する場合は実験にあたって当室スタッフが「判断」を行う必要がでてくるため、「技術支援」としてお引き受けできないことがあります。

当室スタッフによる実験上の「判断」が必要になる場合は、「共同研究」としてお引き受けできる場合がございます。

不明な点はお尋ねください。

EM-002B不具合

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みです。

現状において、一応観察は可能ですが、突然再発する可能性が否定できません。また、本不具合に伴い、実験上の制限が生じております。

年度末の時期であり、マシンタイムも混雑しておりますので、当面は利用停止の措置をとる予定はございませんが、当日突然使用できなくなるもしくは十分な質のデータが得られない等の可能性がございます。締切の近い実験等については、他部署の利用もご検討下さい。

利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

主な不具合内容

  • 放電によるビームのちらつき。
  • エミッション回路・高圧タンクのいずれかまたは両方の不調。
  • エミッション電流の低下。(観察像の明るさ、EDSのカウント数不足の可能性)

対応

  • 新規の直接予約停止(利用希望の方は直接ご連絡ください。)
  • メーカーエンジニアによる点検・修理を予定していますが、補修部材の調達に時間がかかる恐れがあるため、復旧時期は未定です。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

ARM200F不具合(一部復旧)

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられます。利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

不具合内容

  • インギャップ絞りの変形
  • ポールピースキャップ外れ

対応

  • 変形したOLAは既に取り外し済で、1月中に交換予定です。(交換しました。)
  • ポールピースキャップの取り付けにはポールピースを取り外す必要があるため、大規模メンテナンスまでの間当面は取り外したまま使用いたします。

影響

  • OLA(upper)使用不可
  • EDS測定においてCo等のバックグラウンドレベルが上昇する場合がある。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

オスミウムコータ使用できます。

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

オスミウムコータが導入され使用準備が整いましたのでご連絡いたします。

使用を希望される方は当室までお問い合わせください。


メイワフォーシス株式会社 製 Neocオスミウムコータ

メーカーサイトhttp://www.meiwafosis.com/products/neoc/neoc_tokucho.html

装置不具合 イオンミリング

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在・イオンミリング装置Model1010 (fischione) が使用不能となっております。従って、機器利用並びに本装置を用いた試料作製を実施できない状況です。

既に試料作製を依頼されている方や、今後依頼される予定の方でお急ぎの場合は他部署への振替などをご検討頂きますようお願い申し上げます。

原因は排気系の不具合と推定されますが詳細については調査中です。

復旧の見通しがつき次第、再度アナウンスさせていただきます。

詳細についてはお問い合わせください。

以上よろしくお願いします。

金研・分析電顕室

装置・施設の予約ルール(最大予約数の制限)について

利用者の皆様

いつも分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。

当室が管理する装置のWEB予約におけるルールは

  • (電子顕微鏡)翌週以降のみ可。
  • (イオンミリング・スライサ)翌々週以降のみ可。
  • 当日キャンセル不可。

となっており、予約最大数には制限を設けておりませんでしたが、このところ稼働率が上昇し予約を取りにくい状態が生じつつありますので、できるだけ多くの方に装置の利用機会を提供するために、今後は装置毎にWEB上で可能な同時予約可能最大数を2回までとさせていただきます(2回先の分まで予約可能)

実験の都合で3回以上のタイムを同時に予約する必要がある場合は、管理者までお問い合わせください。(タイムの混雑具合を考慮したうえで、管理者側で予約を入れさせていただきます。)

この制限は研究室毎では無く、ユーザー毎に適用されますので、複数のエンドユーザーのためにオペレーター役の利用者がまとめて予約をとっていたような場合は、エンドユーザーそれぞれが予約を取ることで回数制限がかかりにくくなります。

※WEB予約は実際に来室される方が行ってください。(アカウントの共有・使い回しはご遠慮ください。)

ご迷惑をおかけしますが皆様のご理解ご協力をお願い致します。

金研・分析電顕室

 

 

 

GMS オフライン版取得方法

ユーザー各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。

当室管理の装置で取得した実験データの持ち出し方法は様々ですが、Gatan社 GMSのネイティブフォーマットであるdm3, dm4形式での取り扱いを推奨しております。

実験データの閲覧目的であれば、Free-offline版のGMSがGatan社より提供されておりますので、そちらの利用をお勧めします。

Free-offline版のGMSの取得方法は こちら をご覧ください。

上記リンク(PDF)はGMSバージョン2の取得方法の解説になりますが、現在フリーのGMSはバージョン3のみが提供されております。詳細な取得方法についてはGatan社のサイトをご覧ください。

http://www.gatan.com/products/tem-analysis/gatan-microscopy-suite-software

標準の画像ビューアによる閲覧の容易さから、8bit-TIFFやBMP形式を選択される方も多数おられますが、これらの形式に変換することで、スケールバーが埋め込まれてしまい、リサイズやトリミングを困難にする場合があります。また、このファイル形式の変換に伴って色深度が16bitから8bitへ落とされることから、厳密には情報が欠落してしまいます。

情報量を保ったままデータを持ち出すためには、16bit-Tiffを用いる方法もありますが、対応しているソフトウェアが制限されてしまいます。

なお、オープンソースソフトウェアのImagejでもdm3形式(現在dm4には対応していない模様)のファイルを直接読み込み可能です。

不明な点はお尋ねください。

収差補正電子顕微鏡の移管について

利用者各位
いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
10月20日に開催された教授会で承認されたとおり、 文科省ナノテクノロジープラットフォーム事業(ナノプラ)より本所へ導入した収差補正電子顕微鏡( 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡 )について、ナノプラ・分析コアの共同管理による運用を行うこととなりました。当室利用者の皆様におきましては当該装置の使用が可能になりますので是非ご活用ください。
装置の利用方法等、詳細は当室スタッフまでご確認ください。

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続きを読む 収差補正電子顕微鏡の移管について

予約WEBシステムへのユーザー登録に関する不具合について

利用者各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
当室の予約WEBシステムのご使用には利用者毎のユーザー登録が必要になりますが、サーバーの更新に伴いWEBサイト上からのユーザー登録フォームが正しく機能しない状態になっておりました。

利用者の皆様にはご不便をおかけし申し訳ありません。

既にプログラムには修正を施し正常にユーザー登録が可能であることを確認しております。

取り急ぎご報告申し上げます。

装置利用料金及び使用可能財源の改訂について

利用者の皆様

先般お知らせしましたとおり、今年度より当室の利用料金並びに使用可能財源の改定を予定しておりましたが、必要な手続きが完了しましたのでお知らせ致します。

改訂後の使用可能財源(負担経費)は以下の通りです。

  • 運営費交付金
  • 寄附金
  • 間接経費
  • 科学研究費助成金
  • 受託研究費
  • 共同研究費
  • 受託事業費
  • 預り補助金

利用料金は以下の通りです。

 装置等料金備考
1TOPCON
EM-002B
¥1,500/h
2JEOL
JEM-2000EX II
¥1,000/hフィルム代 400円/枚
3JEOL
JEM-ARM200F
¥3,000/h初習者の単独使用はできません。観察代行・もしくは立会観察をご依頼ください。
4イオンスライサ¥1,500/h前処理*を含まない
5イオンミリング¥300/h前処理**を含まない
6試料作製準備室¥500/半日(4h)低速カッター、平行研磨機、
回転湿式研磨機、バフ、
ホットプレート、ディンプラー、
光学顕微鏡等
7試料作製消耗品無料(準備室使用者)研磨紙、補強用メッシュ、
接着剤、研磨砥粒等
一部消耗品は実費
8技術支援料¥3,000/h

利用料金詳細

負担経費ごとに利用申請手続きが必要になります。 不明な点は当室スタッフへお尋ねください。

 

試料作製手順 (バルク・平面試料)

試料作製手順(平面試料)

 工程内容主な使用装置
1切り出し厚さ500μm~1mm程度の板状試料を切り出す。低速カッター
2粗研磨・平行研磨厚さ100μm以下の平行な板状に研磨する。
平行研磨機・耐水研磨紙
3打ち抜き・ディスク加工φ3mmの円板状に加工する。
試料サイズがやや足りない場合も後述のメッシュ貼り付けで対応可能な場合は次の工程へ。
ディスクパンチ・超音波加工機
4精研磨厚さ20-50μm程度に薄板化する。
強磁性体はできるだけ薄くする。
薄くしすぎると試料が変形する場合がある。
平行研磨機・耐水研磨紙
5仕上げ研磨鏡面研磨する。バフ研磨機
6ディンプリング試料中心に凹みをつける。
ダメージが問題になる場合は省略する場合もある。
ディンプラー
7補強メッシュ貼り付け必要に応じて補強メッシュを貼り付ける。エポキシ系接着剤・ホットプレート
8本加工(イオン研磨)薄膜化する。
試料材質及びディンプリング後の初期厚さで加工時間が大きく変わります。
イオンミリング
通常の無機・金属材料平面試料の加工手順

前処理(予備加工):手順1~7
本加工:手順8

当室利用者は本加工のみ、または前処理を含めた全行程を当室に依頼できます。
本加工のみを当室で行う場合は、装置利用料のみが課金されます。
前処理を当室に依頼する場合は、作業時間に応じた技術支援料が課金されます。

装置予約システム使用方法を掲載しました

利用者各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

装置予約システムの使用方法を更新しました。当室の使用には、利用申請手続きに加えて、ユーザー毎にWEB上で装置予約システムへの登録が必要になります。ご利用を予定されている方は予め予約システムへのユーザー登録をお願いします。

 

学外からのファイルサーバへの接続について

ユーザー各位

分析電顕室では利用者のデータ持ち出し用にファイルサーバを運用していますが、セキュリティ向上のために、学外からのFTP接続を制限させていただくことになりました。学外からデータを取り出す場合は、WEBインターフェースをご使用ください。 続きを読む 学外からのファイルサーバへの接続について

2016年4月以降のマシンタイム予約について

利用者各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

先日2016/4/1以降のマシンタイム予約の一時制限について、お知らせさせていただきましたが、現在は、ユーザー毎にWEB状から直接予約可能となっています。なお、当室の使用には年度毎に利用手続きが必要になりますので、各研究室の使用責任者の方はあらかじめ利用申請をお済ませください。

スタッフ不在日時(2016年4-7月)

ユーザー各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

当室では分析コアゼミ等のためスタッフが不在になる場合がございます。スタッフ不在中でも装置使用は可能ですが、観察補助等の支援は提供できませんのであらかじめご了承ください。 続きを読む スタッフ不在日時(2016年4-7月)

高分解能電子顕微鏡像シミュレーション

分析電顕室 ユーザー各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。

高分解能像シミュレーション環境を導入しました。高分解能像のマルチスライスシミュレーションが可能です。構造モデル作製環境も使用可能です。

利用をご希望の方はスタッフまでお問い合わせ下さい。