ユーザー向け情報

「上級利用者枠(仮名)」に関する考え方について(学内利用者向け)

利用者各位 いつも分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。先日案内した「装置利用に関する考え方について」において「上級利用者「枠」(仮名)」についてふれさせて頂きました。この「上級利用者「枠」」が、具体的にどの装置の 「上級利用者枠(仮名)」に関する考え方について(学内利用者向け)

装置利用(料金・成果公開・技術支援)に関する考え方について(学内利用者向け)(2022年暫定版)

本ページは検討中の内容が含まれます(2022/03/30)。 利用者各位 いつも分析電顕室管理の装置をご使用いただきありがとうございます。現在当室では装置利用の枠組みを改訂・明確化する為に検討を進めており、2022年度か 装置利用(料金・成果公開・技術支援)に関する考え方について(学内利用者向け)(2022年暫定版)

装置利用にかかる利用者情報及び取得データ等の取り扱いについて(当室利用ポリシー)

利用者各位 当室管理の装置使用に際しては、利用者・課題・装置使用情報及び取得データについては原則として公開される事を前提としております。具体的な取り扱いは以下の添付ファイルの通りとします。 当室管理装置の使用申請の際には 装置利用にかかる利用者情報及び取得データ等の取り扱いについて(当室利用ポリシー)

若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度(学内専用)

当室では、「若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度(学内専用)」をご利用になれます。 支援内容 装置使用料・技術支援料の半額を免除 支援対象者 以下のいずれかに該当する本学の教員その他研究に従事する方。 (使用財源の 若手研究者を対象とした共用設備利用支援制度(学内専用)

COVID-19対策

本ページでは当室のCOVID-19対策をまとめています。(現在作成中) 実際の対応は内容は随時変更される場合があるため、詳細については直接当室までお問い合わせください。 BCPレベル毎の対応 当室のCOVID-19対応は COVID-19対策

ARM200F 終了手順

Sorry you have no rights to view this post! 本ページへのアクセス権限がありません。(学内専用・所内専用)

装置利用に関する注意事項

【主な対象者】 装置利用には利用手続きが必要になります。 当該装置の基本的な操作を単独で行える方が対象となります。 スタッフによる実験的・学術的判断が必要な場合は技術支援の対象となります。 予約時間に応じた装置使用料が発 装置利用に関する注意事項

技術支援に関する注意事項

【主な対象者】 装置利用には利用手続きが必要になります。 当室スタッフによる技術支援を受けた場合は装置使用料に加えて、支援に要した時間に応じて技術支援料を頂戴いたします。なお、装置上のトラブル対応や、使用方法に関する問い 技術支援に関する注意事項

EM-002B不具合

利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みで EM-002B不具合

ARM200F不具合(一部復旧)

利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられ ARM200F不具合(一部復旧)

【復旧】 イオンミリング 

利用者各位 いつも当室をご利用頂きありがとうございます。 先日アナウンスした、イオンミリング装置Model1010 (fischione)の不具合は解消いたしました。 金研・分析電顕室