利用者各位
いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在、当室管理の電子顕微鏡（002B 及び JEM-ARM200F）におきまして、装置不具合及び設置環境による影響のため、装置が使用不可あるいは、十分な性能が出ない状況が生じております。既に確定している予約分も含めて、スケジュール通りに期待した実験を実施できない恐れがございますので、実験スケジュールをご確認の上必要な場合は予約変更もしくは他の電顕部門のご利用をご検討頂きますようお願い致します。学会シーズンを控え皆様には大変なご不便をおかけしてしまい申し訳ございませんが、何卒ご理解の上ご協力頂きますようお願い致します。
不具合等の詳細
・002B
症状
高圧タンク内の基板が破損し、電子線が発生せず使用不可。
使用不可期間
～8／20以降
対策
メーカーに修理対応を依頼しておりますが、メーカ側、本所の夏期休業の為、夏期休業明けの8／20以降に対応予定。修理完了は未定。
・ARM200F
症状（1）
突発的にレンズ電源がOffになる。症状は継続する場合もあるが、即時～1時間程度でレンズ電源On可能となり、観察続行可。但し、症状発生の度に要軸調整。付随して通信エラーが生じる場合もあり、再起動等で30分程度実験が中断する。特に高倍率観察時には安定するまで時間がかかる。マッピング中などに発生するケースもあり。発生するタイミングは不明。1日1回程度の場合もあれば、1時間で複数回発生する場合もある。
対策
メーカーに原因調査及び修理を依頼しておりますが、現時点で対応策は決定しておりません。
症状（2）
STEM使用時にスキャンノイズが発生し観察不可となる。
原因
隣室設置の大型装置稼働に由来する変動磁場の影響で電子線が不規則に偏向されるため。
対策
基本的に大型装置稼働中のみに症状が発生するため、稼働時間を避けて観察を行う。大型装置の稼働状況については、当該部門と当室で共有しておりますので、マシンタイム予約時にスタッフまでお問い合わせください。磁気シールド等による技術的対策及び、移設を含めた対策を検討中ですが、多額の費用と期間（1年以上）が見込まれるため、当面はスケジュール調整で対応致します。
追加情報
当該装置は現在週2回程度の稼働状況ですが、今後使用頻度が増える見込みです。基本的に技術職員による運転となるため、早朝・深夜・休日に観察を行うことで影響を回避可能です。
