ARM200F

原子分解能走査透過電子顕微鏡　JEM-ARM200F

Jeol　JEM-ARM200F(200kV,Cold-FE)

dsc_000001

  • 型式　日本電子製　JEM-ARM200F　原子分解能分析電子顕微鏡
  • 電子銃　 冷陰極電界放出形電子銃
  • 加速電圧　200kV、80kV
  • 球面収差補正（照射系・結像系）　Wコレクタ仕様
  • 分解能(200kV)
    • STEM-HAADF 100pm
    • TEM 粒子像　130pm
    • TEM格子像　70pm
  • 最大試料傾斜角　X±35°／Y±30°
  • 用途
    • 高分解能TEM観察
    • 高分解能STEM観察（HAADF/LAADF/ABF/BF）
    • TEM-EDS/STEM-EDS
    • TEM-EELS/STEM-EELS

※本装置は東北大学ナノテク融合支援技術センター・文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業との共同運用になります。

※所外ユーザーの方は東北大学ナノテク融合支援技術センター経由（ナノテク枠）での利用をお願いしております。