原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200F

Jeol JEM-ARM200F(200kV,Cold-FE)

dsc_000001

  • 型式 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡
  • 電子銃  冷陰極電界放出形電子銃
  • 加速電圧 200kV、80kV
  • 球面収差補正(照射系・結像系) Wコレクタ仕様
  • 分解能(200kV)
    • STEM-HAADF 100pm
    • TEM 粒子像 130pm
    • TEM格子像 70pm
  • 用途
    • 高分解能TEM観察
    • 高分解能STEM観察(HAADF/LAADF/ABF/BF)
    • TEM-EDS/STEM-EDS
    • TEM-EELS/STEM-EELS

※本装置は東北大学ナノテク融合支援技術センター・文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業との共同運用になります。

※所外ユーザーの方は東北大学ナノテク融合支援技術センター経由(ナノテク枠)での利用をお願いしております。