「お知らせ」カテゴリーアーカイブ

分析電顕室からユーザーの皆様へのお知らせです。

磁性体のTEM観察ご相談ください

各位

最近、強磁性体のTEM観察に関する問い合わせが増えております。一般的に、TEMによる強磁性体の観察は困難が伴いますが、サンプリング手法や試料導入方法を工夫することで、殆どのケースにおいて対応可能です。共通部門等では、トラブル回避の観点から強磁性体試料の観察に対応していない場合もございますが、当室では磁性材料の観察も可能ですので、お困りの方は是非ご相談ください。

電子顕微鏡の不具合等について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
現在、当室管理の電子顕微鏡(002B 及び JEM-ARM200F)におきまして、装置不具合及び設置環境による影響のため、装置が使用不可あるいは、十分な性能が出ない状況が生じております。既に確定している予約分も含めて、スケジュール通りに期待した実験を実施できない恐れがございますので、実験スケジュールをご確認の上必要な場合は予約変更もしくは他の電顕部門のご利用をご検討頂きますようお願い致します。学会シーズンを控え皆様には大変なご不便をおかけしてしまい申し訳ございませんが、何卒ご理解の上ご協力頂きますようお願い致します。

不具合等の詳細

・002B

症状

高圧タンク内の基板が破損し、電子線が発生せず使用不可。

使用不可期間

~8/20以降

対策

メーカーに修理対応を依頼しておりますが、メーカ側、本所の夏期休業の為、夏期休業明けの8/20以降に対応予定。修理完了は未定。


・ARM200F

症状(1)

突発的にレンズ電源がOffになる。症状は継続する場合もあるが、即時~1時間程度でレンズ電源On可能となり、観察続行可。但し、症状発生の度に要軸調整。付随して通信エラーが生じる場合もあり、再起動等で30分程度実験が中断する。特に高倍率観察時には安定するまで時間がかかる。マッピング中などに発生するケースもあり。発生するタイミングは不明。1日1回程度の場合もあれば、1時間で複数回発生する場合もある。

対策

メーカーに原因調査及び修理を依頼しておりますが、現時点で対応策は決定しておりません。

症状(2)

STEM使用時にスキャンノイズが発生し観察不可となる。

原因

隣室設置の大型装置稼働に由来する変動磁場の影響で電子線が不規則に偏向されるため。

対策

基本的に大型装置稼働中のみに症状が発生するため、稼働時間を避けて観察を行う。大型装置の稼働状況については、当該部門と当室で共有しておりますので、マシンタイム予約時にスタッフまでお問い合わせください。磁気シールド等による技術的対策及び、移設を含めた対策を検討中ですが、多額の費用と期間(1年以上)が見込まれるため、当面はスケジュール調整で対応致します。

追加情報

当該装置は現在週2回程度の稼働状況ですが、今後使用頻度が増える見込みです。基本的に技術職員による運転となるため、早朝・深夜・休日に観察を行うことで影響を回避可能です。

分析電子顕微鏡(EM-002B)補修作業のお知らせ

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。
本日より下記の通り電子顕微鏡の補修作業を行います。期間中は当該顕微鏡は当該顕微鏡の使用はできません。また、作業の都合上ドアの開閉や騒音の発生等で他の装置を使用される方への影響も考えられます。
ご迷惑をおかけしますが、ご協力をお願い致します。

  1. 期間 2019/05/27-2019/06/07
  2. 対象装置 EM-002B
  3. 作業内容 高圧タンク及び高圧ケーブルの交換他

参考 https://aem-www.imr.tohoku.ac.jp/em-002b%e4%b8%8d%e5%85%b7%e5%90%88-2/

不明な点は当室までお問い合わせください。

分析電子顕微鏡室

ダイヤモンドワイヤ切断機を導入しました。



利用者各位
平成30年度の指定国立大学補助金(材料拠点) でダイヤモンドワイヤ切断機を導入いたしました。
湿式切断・乾式切断共に可能ですので、脆性材料や複合材料などの難加工試料の作製にご活用下さい。

装置仕様は下記メーカーサイトをご参照下さい。
(詳細は異なる場合がありますので、当室まで直接ご確認下さい。)
http://www.newmetals.co.jp/details/428.html

EM-002B不具合

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の分析電子顕微鏡EM-002Bで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、復旧には大規模なメンテナンスが必要となる見込みです。

現状において、一応観察は可能ですが、突然再発する可能性が否定できません。また、本不具合に伴い、実験上の制限が生じております。

年度末の時期であり、マシンタイムも混雑しておりますので、当面は利用停止の措置をとる予定はございませんが、当日突然使用できなくなるもしくは十分な質のデータが得られない等の可能性がございます。締切の近い実験等については、他部署の利用もご検討下さい。

利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

主な不具合内容

  • 放電によるビームのちらつき。
  • エミッション回路・高圧タンクのいずれかまたは両方の不調。
  • エミッション電流の低下。(観察像の明るさ、EDSのカウント数不足の可能性)

対応

  • 新規の直接予約停止(利用希望の方は直接ご連絡ください。)
  • メーカーエンジニアによる点検・修理を予定していますが、補修部材の調達に時間がかかる恐れがあるため、復旧時期は未定です。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

料金等改定のお知らせ

利用者各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

2019年1月17日、材料分析研究コア内規群が改訂されました。本改訂に伴い、主に以下の点が変更されます。

  1. 利用者資格の変更 (学外利用者の受け入れ)
    • 本学職員と研究上の協力関係を有する他の大学・研究機関等の研究者及び技術者のうち、本学職員からの紹介があったものの利用が許可されます。
  2. 利用料金の改訂
    • 利用料金は直近の稼働実績および運転・維持費当の変動に応じて随時見直されます。
    • 学外利用者向けの料金を新設しました。
    • 新料金は2019/4/1使用分より適応されます。
    • 新料金はこちらのページ
  3. 使用申請書様式の改訂
    • 2019/4/1以降の使用申請には新様式をご使用ください。

不明な点は当室スタッフまでお尋ねください。

分析電顕室

ARM200F不具合(一部復旧)

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室管理の原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fで以下の不具合が発生しております。応急対応はすんでおり観察は可能ですが、実験への影響が出る可能性が考えられます。利用者の皆様にはご不便をおかけして申し訳ございませんが、 できるだけ迅速な復旧を目指して対応中ですのでご理解のほどをお願い致します。

不具合内容

  • インギャップ絞りの変形
  • ポールピースキャップ外れ

対応

  • 変形したOLAは既に取り外し済で、1月中に交換予定です。(交換しました。)
  • ポールピースキャップの取り付けにはポールピースを取り外す必要があるため、大規模メンテナンスまでの間当面は取り外したまま使用いたします。

影響

  • OLA(upper)使用不可
  • EDS測定においてCo等のバックグラウンドレベルが上昇する場合がある。

原因等については現在調査中です。個別の実験に対する影響については直接ご相談ください。

分析電顕室

JEM-ARM200Fの利用について

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

現在当室では原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM200Fを東北大学ナノテク融合技術支援センターと共同運用いたしておりますが、当該装置は文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム(ナノテク)」事業において導入されており、使用においてはいくつかの制限がかかっております。

上記事業の費用において導入された設備については、外部共用率の目標を50%以上とすることが求められており、当室で管理している時間枠は外部共用を除いた分(分析枠)となります。外部共用率に計上可能な案件は、原則として学外利用者による公開案件のみとなります。例外として、実施部局(本所)以外のユーザーは1/3を上限に外部共用にカウントすることが可能です。

従って、所内ユーザーはナノテク枠(学内)の使用を申請することができないため、分析枠で対応することとなります。 また、制限を超えた利用を行うことで、場合によっては事業縮小や停止等のペナルティを受ける可能性がございます。 現在所内外の多数のユーザーの方に当該装置をご利用頂いておりますが、本年度分の分析枠は既に枯渇しかかっております。なお、上述の通り学内の所外ユーザの方もナノテク枠(全体)の最大1/3までしか使用できませんので、ナノテク枠(学内)も逼迫しており必要な実験が行えない恐れが出てきております。

以上の事から、分析枠・ナノテク枠(学内)の枯渇を抑制し、できるだけ多くの利用者に当該装置の利用機会を提供する為に、利用者の方には以下の対応をとるようお願い致します。

  • 所外ユーザーはナノテク枠(学内)の使用をお願いします。
  • 企業や他大学との共同研究等で利用される場合は、共同研究先の方の名義によるナノテク枠(学外)での利用申請が可能かご検討ください。(枠の制限がかからないため、タイムを取りやすくなります。)

※本要請はあくまでも依頼であり、所外ユーザーにナノテク枠の利用を強制するものではありません。

※※ナノテク枠の利用にあたっては課題審査及び利用報告書の提出等が必要となりますが、研究遂行の負担にならないよう「東北大学ナノテク融合技術支援センター」がフォローいたします。詳細はお問い合わせください。http://cints-tohoku.jp/

※※※分析枠からナノテク枠への切り替えを含む不明な点については当室までご相談ください。

※※※※分析枠・ナノテク枠(全体・学内・学外)の表記は本サイト独自のものです。

皆様のご協力をお願い致します。

オスミウムコータ使用できます。

利用者各位

いつも当室をご利用頂きありがとうございます。

オスミウムコータが導入され使用準備が整いましたのでご連絡いたします。

使用を希望される方は当室までお問い合わせください。


メイワフォーシス株式会社 製 Neocオスミウムコータ

メーカーサイトhttp://www.meiwafosis.com/products/neoc/neoc_tokucho.html

装置・施設の予約ルール(最大予約数の制限)について

利用者の皆様

いつも分析電顕室をご利用頂きありがとうございます。

当室が管理する装置のWEB予約におけるルールは

  • (電子顕微鏡)翌週以降のみ可。
  • (イオンミリング・スライサ)翌々週以降のみ可。
  • 当日キャンセル不可。

となっており、予約最大数には制限を設けておりませんでしたが、このところ稼働率が上昇し予約を取りにくい状態が生じつつありますので、できるだけ多くの方に装置の利用機会を提供するために、今後は装置毎にWEB上で可能な同時予約可能最大数を2回までとさせていただきます(2回先の分まで予約可能)

実験の都合で3回以上のタイムを同時に予約する必要がある場合は、管理者までお問い合わせください。(タイムの混雑具合を考慮したうえで、管理者側で予約を入れさせていただきます。)

この制限は研究室毎では無く、ユーザー毎に適用されますので、複数のエンドユーザーのためにオペレーター役の利用者がまとめて予約をとっていたような場合は、エンドユーザーそれぞれが予約を取ることで回数制限がかかりにくくなります。

※WEB予約は実際に来室される方が行ってください。(アカウントの共有・使い回しはご遠慮ください。)

ご迷惑をおかけしますが皆様のご理解ご協力をお願い致します。

金研・分析電顕室

 

 

 

年始年末の閉室について (2017~2018)

利用者各位

いつも金研分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。
標記の件について、下記の通り当室を閉室致します。
ご迷惑をおかけしますがよろしくお願い申し上げます。


閉室期間 : 2017/12/29(金)~2017/1/4(木)

以上

EM-002B不具合

利用者の皆様

分析電子顕微鏡 EM-002Bは試料ステージ不調のため試料傾斜を伴う観察が困難になっております。

その他の不具合対策を含めて3/17にメーカーのエンジニアによる調整修理を予定しております。

現在でもマシンタイムの予約は受け付けておりますが、非常に使いにくい状態ですのでご了承ください。(修理完了までの期間は課金対象と致しません。)

不明な点はお尋ねください。

大変ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

JEM-ARM200F不具合(復旧)

利用者の皆様

原子分解能走査透過電子顕微鏡 JEM-ARM200Fは復旧いたしました。

使用をご希望の方は当室までお尋ねください。

ただし、3月のマシンタイムは大変混みあっております。時間に余裕のある実験につきましてはできる限り4月以降のご予約をお願いいたします。

なお、STEM像にノイズが乗る不具合については応急対策済みですが、3月中に本対策を予定しています。

続きを読む JEM-ARM200F不具合(復旧)

年始年末の閉室について

利用者各位
いつも金研分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。
標記の件について、下記の通り当室を閉室致します。
ご迷惑をおかけしますがよろしくお願い申し上げます。


閉室期間 : 2016/12/29(木)~2017/1/3(火)

以上

収差補正電子顕微鏡の移管について

利用者各位
いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
10月20日に開催された教授会で承認されたとおり、 文科省ナノテクノロジープラットフォーム事業(ナノプラ)より本所へ導入した収差補正電子顕微鏡( 日本電子製 JEM-ARM200F 原子分解能分析電子顕微鏡 )について、ナノプラ・分析コアの共同管理による運用を行うこととなりました。当室利用者の皆様におきましては当該装置の使用が可能になりますので是非ご活用ください。
装置の利用方法等、詳細は当室スタッフまでご確認ください。

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続きを読む 収差補正電子顕微鏡の移管について

サイト休止のお知らせ(停電対応)

本サイトは下記の通り休止致します。

期間 2016年8月5日(金) 17:00頃~2016年8月8日(月)10:00頃

理由 8月7日(日)に片平団地の計画停電が予定されているため。

上記期間中はWEB予約システム等も停止いたします。

停止期間は前後する場合がございます。

以上ご迷惑をおかけいたしますがよろしくお願いします。

 

予約WEBシステムへのユーザー登録に関する不具合について

利用者各位

いつも当室をご利用いただきありがとうございます。
当室の予約WEBシステムのご使用には利用者毎のユーザー登録が必要になりますが、サーバーの更新に伴いWEBサイト上からのユーザー登録フォームが正しく機能しない状態になっておりました。

利用者の皆様にはご不便をおかけし申し訳ありません。

既にプログラムには修正を施し正常にユーザー登録が可能であることを確認しております。

取り急ぎご報告申し上げます。

当サイトのアドレスを変更しました。

当サイトのURLを下記の通り変更しました。
ブックマークを登録されている場合は変更のほどよろしくお願いします。

旧URL aem-www.imr.tohoku.ac.jp/wordpress/
新URL aem-www.imr.tohoku.ac.jp/

当面は旧URLの使用も可能です。旧URLで本サイトにアクセスした場合は、自動的に新URLにリダイレクトされますが、一部のページについては正しく表示されない可能性があります。不明な点は当室スタッフまでお問い合わせください。

熊本地震による被災地域の研究者支援

この度の熊本地震により被災された皆様に、心よりお見舞い申し上げます。

分析電顕室では熊本地震被災地の材料科学分野の研究者に対する分析・解析支援を行っております。本ホームページに掲載してある装置を用いた電子顕微鏡による構造解析に関わる支援をご希望される場合、技術的に対応可能かどうかを個別にご相談させていただきますので、まず下記のアドレスに直接問合せをしてください。

電子顕微鏡 nagasako (担当:長迫)

元素分析に関わる支援については分析コアのホームページ(http://bunseki-core.imr.tohoku.ac.jp/ )をご覧ください。

装置利用料金及び使用可能財源の改訂について

利用者の皆様

先般お知らせしましたとおり、今年度より当室の利用料金並びに使用可能財源の改定を予定しておりましたが、必要な手続きが完了しましたのでお知らせ致します。

改訂後の使用可能財源(負担経費)は以下の通りです。

  • 運営費交付金
  • 寄附金
  • 間接経費
  • 科学研究費助成金
  • 受託研究費
  • 共同研究費
  • 受託事業費
  • 預り補助金

利用料金は以下の通りです。

 装置等料金備考
1TOPCON
EM-002B
¥1,500/h
2JEOL
JEM-2000EX II
¥1,000/hフィルム代 400円/枚
3JEOL
JEM-ARM200F
¥3,000/h初習者の単独使用はできません。観察代行・もしくは立会観察をご依頼ください。
4イオンスライサ¥1,500/h前処理*を含まない
5イオンミリング¥300/h前処理**を含まない
6試料作製準備室¥500/半日(4h)低速カッター、平行研磨機、
回転湿式研磨機、バフ、
ホットプレート、ディンプラー、
光学顕微鏡等
7試料作製消耗品無料(準備室使用者)研磨紙、補強用メッシュ、
接着剤、研磨砥粒等
一部消耗品は実費
8技術支援料¥3,000/h

利用料金詳細

負担経費ごとに利用申請手続きが必要になります。 不明な点は当室スタッフへお尋ねください。

 

スタッフ不在日時(2016年4-7月)

ユーザー各位

いつも分析電顕室をご利用いただきありがとうございます。

当室では分析コアゼミ等のためスタッフが不在になる場合がございます。スタッフ不在中でも装置使用は可能ですが、観察補助等の支援は提供できませんのであらかじめご了承ください。 続きを読む スタッフ不在日時(2016年4-7月)